Поиск

Полнотекстовый поиск:
Где искать:
везде
только в названии
только в тексте
Выводить:
описание
слова в тексте
только заголовок

Рекомендуем ознакомиться

Коммуникации и связь->Лекция
Внешние помехи и внутренние шумы энергетически эквивалентны поэтому их оценивают одним параметром – шумовая температура антенны – позволяет определить...полностью>>
Коммуникации и связь->Доклад
Свойство РП быть подверженным действию помех, реагировать на них называется восприимчивостью. Реакция РЭС зависит от мощности помехи. Помеха может при...полностью>>
Коммуникации и связь->Контрольная работа
субгармоники, комбинационные частоты, интермодуляция, паразитные колебания) – мощность, напряженность поля, спектральная плотность потока мощности, ча...полностью>>
Коммуникации и связь->Лекция
наличие нелинейности в тракте формирования модулирующих сигналов; наличие перемодуляции или ограничение амплитуды сигнала существенно расширяет спектр...полностью>>

Главная > Курсовая работа >Коммуникации и связь

Сохрани ссылку в одной из сетей:

К методу образцовых сигналов примыкает тестовый метод. Здесь значение измеряемой величины определяется по результатам нескольких наблюдений, при которых в одном случае входным сигналом средства измерения является сама измеряемая величина Х, а в другом - так называемые тесты, являющиеся функциями измеряемой величины, например

X1 = X + ΔX;

X2 = a · X;

X3 = (X + ΔX)/b.

Здесь ΔX - известное приращение величины, создаваемое мерой; a, b - постоянные коэффициенты.

Тестовые методы можно использовать для коррекции систематических погрешностей при измерениях различных физических величин. Эффективность этих методов зависит от погрешности воспроизведения величины ΔX и наличия случайных погрешностей.

Метод вспомогательных измерений

Используется для исключения погрешностей от влияющих величин и неинформативных параметров входного сигнала. Для реализации этого метода одновременно с измеряемой величиной Х при помощи вспомогательных измерительных устройств производится измерение каждой из влияющих величин и вычисление при помощи вычислительного устройства, а также формул и алгоритмов влияния поправок ΔXi к результатам измерений. Широкому использованию метода вспомогательных измерений способствует быстрое развитие средств измерений со встроенными микропроцессорами. Объектами вспомогательных измерений являются не только влияющие величины, но и неинформативные параметры входного сигнала.

Этот метод является составной частью многих структурных методов коррекции погрешностей.

Метод симметричных наблюдений

Заключается в проведении многократных наблюдений через равные промежутки времени и усреднении результатов наблюдений, симметрично расположенных относительно среднего наблюдения. Обычно этот метод применяется для исключения прогрессирующих погрешностей, изменяющихся по линейному закону.

Метод симметричных наблюдений можно использовать для устранения других видов погрешностей, например систематических погрешностей от влияющих величин, изменяющихся по периодическому закону. В этом случае симметричные (периодические) наблюдения проводят через половину периода, когда погрешность имеет разные знаки, но одинаковые значения. Таким путем можно, например, исключить погрешность от наличия четных гармоник при измерении амплитудного значения напряжения и искаженной форме кривой.

Все рассмотренные методы направлены на выявление и уменьшение погрешностей измерений. Эта цель достигается за счет усложнения эксперимента, применения более сложных и дорогостоящих средств измерений, например, микропроцессорных приборов или измерительно–вычислительных комплексов.

Построение технологической карты для обобщенной программы подготовки к проведению измерений.

Технологическая карта для обобщенной программы подготовки к проведению измерений

№ п/п

Содержание

P01 Старт

P02 Задача измерения

P03 Понятна ли формулировка задачи измерения?

P04 Заново сформулировать задачу измерения

P05 Можно ли получить искомую информацию только из результатов

измерений?

P06 Является ли измерение более экономичным, чем поиск результата в

литературных источниках?

P07 Заменить измерение изучением литературных источников

P08 Известен ли носитель информации?

P09 Решение задачи

P10 Стоп

P11 Направленный опрос источников информации

P12 Коллеги по учебе, по специальности

P13 Библиотека университетов

P14 Систематические каталоги:

1) библиотек вузов;

2) городской технической библиотеки

P15 Годовые подшивки технических журналов за последние 5 лет

P16 Реферативные источники:

1) реферативные журналы России; 2) Engineering Index USA

P17 Известен ли источник информации?

P18 Оптимизирован ли источник измерительной информации?

P19 Предпочтителен легко получаемый источник измерительной информации

P20 Известны ли точностные требования?

P21 Обоснованы ли точностные требования?

P22 Заменить необоснованные точностные требования на обоснованные

P23 Известно ли, какие точностные требования технически реализуемы?

P24 Имеется ли возможность технической реализации точностных

требований, изложенных в задаче измерения?

P25 Можно ли заново сформулировать задачу?

P26 Стоп

P27 Известны ли принцип и метод измерения?

P28 Оптимизированы ли принцип и метод измерения?

P29 Предпочтительны классические методы прямых измерений

P30 Известен ли процесс измерения?

P31 Оптимизирован ли процесс измерения?

P32 Предпочтительны статические методы измерений

P33 Известна ли система измерения?

P34 Оптимизирована ли система измерения?

P35 Предпочтительна измерительная система, более простая по структуре и

конструктивному выполнению

P36 Существует ли необходимая измерительная система?

P37 Подготовить измерительную систему к проведению измерений

P38 Часто ли повторяются данные измерения?

P39 Купить измерительную систему

P40 Существуют ли в прокате данные измерительные системы?

P41 Взять в прокат измерительную систему

P42 Целенаправленный обзор источников информации

P43 Справочные каталоги научных приборов:

1) Академии наук России; 2) вузов России;

3) промышленных предприятий России

P44 Стоп

Проведение измерений

На рис. 7. представлена емкостно-диодная измерительная цепь дифференциального. Емкости датчика С1 и С2 подсоединены к источнику переменного напряжения с помощью четырех диодов D1, D2, D3, D4 и двух дополнительных конденсаторов С3 , С4. В каждом полупериоде переменного напряжения открывается соответствующая пара диодов (D1, D2 или D3, D4). При этом каждый из конденсаторов С3 , С4 соединяется последовательно то с емкостью С1, то с емкостью С2. При неравенстве емкостей С1 и С2 токи через конденсаторы С3, текущие в положительном и отрицательном направлениях, будут не равны между собой. Вследствие этого на конденсаторах С3 появится постоянное напряжение, которое и является выходным. Если пренебречь падениями напряжения на диодах, то значение Uвых определится приближенным соотношением

Нестабильность выходного напряжения определяется не идентичностью падения напряжения на диодах, поэтому диоды должны тщательно подбираться. Чтобы избежать шунтирования емкостей датчика паразитными емкостями, диодная сборка помещается в корпусе датчика. Неравенство паразитных емкостей проводов, подходящих к точкам 1 и 2, приводит к изменению переменной составляющей напряжения на выходе; на постоянную составляющую напряжения эти емкости не влияют.

Источник переменного тока напряжением U˷ подсоединен к точкам 1 и 2 измерительной схемы через разделительный конденсатор С3, конденсатор Сх, емкость которого измеряется, подключен к точкам 1 и 2 через диод D1. Накопительный конденсатор C1 подсоединен к точкам 1 и 2 через резистор R1, а к конденсатору Сх — через диод D2. Образцовый конденсатор Со, емкость которого известна, подключен к точкам 1 и 2 через диод D3. Второй накопительный конденсатор С2 подсоединен к точкам 1 и 2 через резистор R2, а к конденсатору Со - через диод D4. К точкам 1 и 2 подсоединен также фильтр нижних частот, состоящий из последовательно соединенных резистора R3 и конденсатора С4. Параллельно конденсатору С4 включено сопротивление нагрузки R4, с которого и снимается выходной сигнал Uвых. При положительной полярности напряжения U˷ (указанной на рис. 1 без скобок) открывается диод D3 и конденсатор Со заряжается до напряжения Uc0 которое определяется значением Со. Напряжение Uс на конденсаторе С вычисляется по формуле

Uc(t) = Uc(∞) - [Uc(∞) – Uc(0)e-t/RC, (4.1)

здесь t - время; Uc(0), Uc(∞) - значения Uc при t = 0иt = ∞;R - сопротивление цепи заряда (прямое сопротивление диода D1 или D3).

При изменении направления U˷ (полярность указана на рис. 1 в скобках) будет протекать ток заряда конденсатора C2 по цепи: точка 2, конденсатор Со, диод D4, конденсатор С2, точка 1. При этом конденсатор С2 зарядится до напряжения Uc2 = U + Uc0, так как источник напряжения U˷ и конденсатор С0 оказались включенными последовательно и согласно. Аналогичным образом на­пряжение на конденсаторе С1 равно Uc1 = U + Ucx (где Ucx определяется значе­нием Сx), но полярность Uc1 противоположна полярности Uc2. Конденсатор C1 разряжается по цепи R3, R4, R1, а конденсатор С2 - по цепи R2, R4, R3. Таким об­разом, токи разряда конденсаторов С1 и С2 протекают через сопротивление нагрузки R4 встречно и выходной сигнал Uвых будет пропорционален разности напряжений Uc1 и Uc2, т. е. в конечном счете пропорционален разности емкостей конденсаторов Сх и С0.

В схеме сохраняется шунтирующее действие пар диодов D1, D2 и D3, D4, но так как сопротивления R1, R2 намного больше прямого сопротивления диодов, причем для шунтирующих токов резисторы R1, R2 оказываются включенными последовательно, то это действие намного меньше, чем в емкостно-диодной схеме [7]. Нестабильность выходного напряжения определяется не идентичностью падения напряжения на диодах, поэтому диоды должны тщательно подбираться. Чтобы избежать шунтирования емкостей датчика паразитными емкостями, диодная сборка помещается в корпусе датчика.

Построение технологической карты для обобщенной программы проведения измерений.

Технологическая карта для обобщенной программы проведения измерений

№ п/п

Содержание

I01 Старт

I02 Экспериментальная часть измерений

I03 Овладел ли экспериментатор процессом измерения?

I04 Опрос источников информации

I05 Специалист

I06 Специальная литература

I07 Находится ли объект измерения в однозначных (воспроизводимых)



Загрузить файл

Похожие страницы:

  1. Особенности радиоэлектроники и ее физические основы

    Шпаргалка >> Коммуникации и связь
    ... , емкостные) ПЧ. 3. По типу ПЭ выделяют: пассивные (диодные), ... схемы ресинхронизации. Например, проведенные исследования показали неприемлимость данной схемы ... обмотки ротора электродвигателя подключают измерительную схему непосредственно к концам обмотки ...
  2. Расчет выпрямителя расчет транзисторного усилительного каскада синтез логических схем

    Курсовая работа >> Коммуникации и связь
    ... планетоходов; обеспечивают исследование процессов в ... схема (рис. 1.2) строится на однофазном трансформаторе Т. Диодная ... включенный параллельно нагрузке (емкостный фильтр, рис. ... из­мерительных приборов и устройств автоматики. Связи между этими схемами ...
  3. Системы независимого возбуждения

    Реферат >> Коммуникации и связь
    ... интересным зарубежным исследованиям и разработкам быстродействующих диодных и тиристорных ... величины, соответствующей номинальной емкостной мощности, вторая — ... измерительных междуполюсных катушек К и датчиков тока ДТ1 и ДТ2. Рис. 8. Структурные схемы ...
  4. МикроЭВМ на базе микропроцессора КР580ВМ

    Реферат >> Информатика
    ... блока Схема применения блока микропроцессорного Работа измерительной ... продукта Маркетинговые исследования Расчет эффективности ... сопротивление кремниевого диодного моста при работе ... при работе на нагрузку с емкостным характером сопротивления: (7.20) где ...
  5. Расчет и проектирование диода Ганна

    Курсовая работа >> Коммуникации и связь
    ... и экспериментальным исследованиям свойств полупроводников ... в схемах выпрямителей. 1.1.2 Диодные матрицы и сборки Диодные матрицы ... маломощных передатчиках и в измерительной технике. Выходная мощность ... с резонирующими емкостными и индуктивными элементами ...

Хочу больше похожих работ...

Generated in 0.0014519691467285